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利用高频返回散射技术探测电离层大尺度扰动

张秀菊 焦培南 姜炳武

张秀菊, 焦培南, 姜炳武. 利用高频返回散射技术探测电离层大尺度扰动[J]. 空间科学学报, 1988, 8(2): 138-144. doi: 10.11728/cjss1988.02.138
引用本文: 张秀菊, 焦培南, 姜炳武. 利用高频返回散射技术探测电离层大尺度扰动[J]. 空间科学学报, 1988, 8(2): 138-144. doi: 10.11728/cjss1988.02.138
Zhang Xiu-ju, Jiao Pei-nan, Jiang Bing-wu. LSTID Measured by the Technique of the HF Backscattering Sounder[J]. Chinese Journal of Space Science, 1988, 8(2): 138-144. doi: 10.11728/cjss1988.02.138
Citation: Zhang Xiu-ju, Jiao Pei-nan, Jiang Bing-wu. LSTID Measured by the Technique of the HF Backscattering Sounder[J]. Chinese Journal of Space Science, 1988, 8(2): 138-144. doi: 10.11728/cjss1988.02.138

利用高频返回散射技术探测电离层大尺度扰动

doi: 10.11728/cjss1988.02.138

LSTID Measured by the Technique of the HF Backscattering Sounder

  • 摘要: 本文叙述了利用相控阵脉冲多普勒探测技术测量电离层大尺度扰动(LSTID)。给出了LSTID的分析方法和计算方法。对典型事件进行了计算并获得了LSTID的特征参量。在研究中采用折皱反射模式说明了LSTID的形态。

     

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出版历程
  • 收稿日期:  1987-07-02
  • 修回日期:  1900-01-01
  • 刊出日期:  1988-04-24

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