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1996-2003年大耀斑事件引起的TEC突然增强的统计分析

陈斌 刘立波 万卫星 宁百齐 丁锋

陈斌, 刘立波, 万卫星, 宁百齐, 丁锋. 1996-2003年大耀斑事件引起的TEC突然增强的统计分析[J]. 空间科学学报, 2005, 25(1): 6-16. doi: 10.11728/cjss2005.01.006
引用本文: 陈斌, 刘立波, 万卫星, 宁百齐, 丁锋. 1996-2003年大耀斑事件引起的TEC突然增强的统计分析[J]. 空间科学学报, 2005, 25(1): 6-16. doi: 10.11728/cjss2005.01.006
A Statistical Analysis of SITEC Caused by Intense Solar Flares During 1996-2003[J]. Journal of Space Science, 2005, 25(1): 6-16. doi: 10.11728/cjss2005.01.006
Citation: A Statistical Analysis of SITEC Caused by Intense Solar Flares During 1996-2003[J]. Journal of Space Science, 2005, 25(1): 6-16. doi: 10.11728/cjss2005.01.006

1996-2003年大耀斑事件引起的TEC突然增强的统计分析

doi: 10.11728/cjss2005.01.006

A Statistical Analysis of SITEC Caused by Intense Solar Flares During 1996-2003

  • 摘要: 利用1996-2003年期间GOES卫星耀斑观测资料和国际GPS观测网的GPS-TEC资料分析X级大耀斑事件引起的电离层电子浓度总含量(TEC)的突然增强(SITEC)现象.对X射线耀斑等级、耀斑日面位置与SITEC的关系进行了分析.结果表明,两者都与SITEC现象的强弱有着一定的正相关性.在消除X射线耀斑等级、耀斑日面位置对电离层SITEC现象的影响后,进而分析了日地距离以及耀斑持续时间对电离层SITEC现象的影响.结果表明,日地距离和耀斑持续时间都是影响SITEC现象的重要参数,日地距离较近时发生的耀斑事件引起的SITEC现象较为强烈.另外,耀斑持续时间越长,SITEC现象越微弱,但是当耀斑持续时间继续延长时,SITEC现象的强弱逐渐趋于不再改变,最后在某值附近达到平衡.还对某些没有在电离层中引起明显SITEC现象的耀斑事件进行了讨论,发现了这类耀斑的一些特征.

     

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出版历程
  • 收稿日期:  1900-01-01
  • 修回日期:  1900-01-01
  • 刊出日期:  2005-01-15

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