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航天电子设备可靠性评估方法研究

孙鹏 赵阳 董海平

孙鹏, 赵阳, 董海平. 航天电子设备可靠性评估方法研究[J]. 空间科学学报, 2012, 32(2): 265-259. doi: 10.11728/cjss2012.02.265
引用本文: 孙鹏, 赵阳, 董海平. 航天电子设备可靠性评估方法研究[J]. 空间科学学报, 2012, 32(2): 265-259. doi: 10.11728/cjss2012.02.265
SUN Peng, ZHAO Yang, DONG Haiping. Study on Assessment Method of Reliability of Spaceflight Electronic Device[J]. Journal of Space Science, 2012, 32(2): 265-259. doi: 10.11728/cjss2012.02.265
Citation: SUN Peng, ZHAO Yang, DONG Haiping. Study on Assessment Method of Reliability of Spaceflight Electronic Device[J]. Journal of Space Science, 2012, 32(2): 265-259. doi: 10.11728/cjss2012.02.265

航天电子设备可靠性评估方法研究

doi: 10.11728/cjss2012.02.265
详细信息
  • 中图分类号: V488

Study on Assessment Method of Reliability of Spaceflight Electronic Device

  • 摘要: 建立了一种综合利用航天电子设备分系统可靠性信息和试验数据以及整机系统试验数据的Bayes可靠性评估方法. 该方法利用最大熵方法融合分系统可靠性信息, 推导了从分系统可靠性矩到系统可靠性矩的计算公式, 然后建立了基于继承因子ρ的混合β先验分布, 结合整机系统试验数据确定后验分布, 最后, 基于后验分布推断航天电子设备可靠性. 采用该方法对航天电子设备可靠性进行了评估, 当整机系统试验数据为240次时, 航天电子设备在置信水平0.70的情况下可靠度可达到0.9991, 所要求的整机系统试验次数比经典方法约降低了4/5.

     

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出版历程
  • 收稿日期:  2011-01-06
  • 修回日期:  2011-10-28
  • 刊出日期:  2012-03-15

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