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厦门电离层垂测仪电子浓度剖面最优插值同化的初步建立

王勇 林兆祥 余涛

王勇, 林兆祥, 余涛. 厦门电离层垂测仪电子浓度剖面最优插值同化的初步建立[J]. 空间科学学报, 2011, 31(6): 771-777. doi: 10.11728/cjss2011.06.771
引用本文: 王勇, 林兆祥, 余涛. 厦门电离层垂测仪电子浓度剖面最优插值同化的初步建立[J]. 空间科学学报, 2011, 31(6): 771-777. doi: 10.11728/cjss2011.06.771
WANG Yong, LIN Zhaoxiang, YU Tao. An OI-based Assimilation Method of Vertical Ionospheric Electron Density Profile Over Xiamen[J]. Journal of Space Science, 2011, 31(6): 771-777. doi: 10.11728/cjss2011.06.771
Citation: WANG Yong, LIN Zhaoxiang, YU Tao. An OI-based Assimilation Method of Vertical Ionospheric Electron Density Profile Over Xiamen[J]. Journal of Space Science, 2011, 31(6): 771-777. doi: 10.11728/cjss2011.06.771

厦门电离层垂测仪电子浓度剖面最优插值同化的初步建立

doi: 10.11728/cjss2011.06.771
详细信息
  • 中图分类号: P352

An OI-based Assimilation Method of Vertical Ionospheric Electron Density Profile Over Xiamen

  • 摘要: 最优插值(Optimal Interpolation, OI)同化是一种利用最小二乘法使分析误差方差极小化的方法. 提出并建立了一种电离层一维剖面最优插值的同化方法. 借鉴及参考气象的同化方法, 基于最优插值方法, 采用厦门电离层垂测仪2009年6至8月观测数据和一维电离层理论模式(IGGCAS1D)背景值来构建误差协方差, 并进行同化试验和分析预报. 结果表明方法可靠, 没有出现同化时背景数据与观测数据偏离较大的问题, 同化后所得结果与观测数据符合较好.

     

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出版历程
  • 收稿日期:  2011-01-14
  • 修回日期:  2011-08-12
  • 刊出日期:  2011-11-15

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