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基于Scrubbing的空间SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计

马寅 安军社 王连国 孙伟

马寅, 安军社, 王连国, 孙伟. 基于Scrubbing的空间SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计[J]. 空间科学学报, 2012, 32(2): 270-276. doi: 10.11728/cjss2012.02.270
引用本文: 马寅, 安军社, 王连国, 孙伟. 基于Scrubbing的空间SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计[J]. 空间科学学报, 2012, 32(2): 270-276. doi: 10.11728/cjss2012.02.270
MA Yin, AN Junshe, WANG Lianguo, SUN Wei. SEU-tolerant System Design of SRAM FPGA Based on Scrubbing in Aerospace[J]. Chinese Journal of Space Science, 2012, 32(2): 270-276. doi: 10.11728/cjss2012.02.270
Citation: MA Yin, AN Junshe, WANG Lianguo, SUN Wei. SEU-tolerant System Design of SRAM FPGA Based on Scrubbing in Aerospace[J]. Chinese Journal of Space Science, 2012, 32(2): 270-276. doi: 10.11728/cjss2012.02.270

基于Scrubbing的空间SRAM型FPGA抗单粒子翻转系统设计

doi: 10.11728/cjss2012.02.270
详细信息
  • 中图分类号: V524;P353

SEU-tolerant System Design of SRAM FPGA Based on Scrubbing in Aerospace

  • 摘要: 基于SRAM工艺的FPGA在空间环境下容易受到单粒子翻转(Single Event Upsets, SEU)的影响而导致信息丢失或功能中断. 在详细讨论三模冗余(Triple Modular Redundancy, TMR)和刷新(Scrubbing)的重要原理及实现细节的基 础上, 实现了一种高可靠性、TMR+Scrubbing+Reload的容错系统设计, 用反熔丝型FPGA对SRAM型FPGA的配置数据进行毫秒级周期刷新, 同时对两个FPGA均做TMR处理. 该容错设计已实际应用于航天器电子系统, 可为高可靠性电子系统设计提供参考.

     

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出版历程
  • 收稿日期:  2011-01-04
  • 修回日期:  2011-10-28
  • 刊出日期:  2012-03-15

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