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用斜探测电离图(P-f)作频率预报

赵德林

赵德林. 用斜探测电离图(P-f)作频率预报[J]. 空间科学学报, 1988, 8(2): 145-149. doi: 10.11728/cjss1988.02.145
引用本文: 赵德林. 用斜探测电离图(P-f)作频率预报[J]. 空间科学学报, 1988, 8(2): 145-149. doi: 10.11728/cjss1988.02.145
Zhao De-lin. The Frequency Prediction by Oblique lonogram[J]. Chinese Journal of Space Science, 1988, 8(2): 145-149. doi: 10.11728/cjss1988.02.145
Citation: Zhao De-lin. The Frequency Prediction by Oblique lonogram[J]. Chinese Journal of Space Science, 1988, 8(2): 145-149. doi: 10.11728/cjss1988.02.145

用斜探测电离图(P-f)作频率预报

doi: 10.11728/cjss1988.02.145 cstr: 32142.14.cjss1988.02.145

The Frequency Prediction by Oblique lonogram

  • 摘要: 本文分析了斜探测电离图(P-f)。在对测得的电离图判读的基础上给出了最高观测频率MOF的日变化曲线,它可看作为电离层准实时频率预报曲线。图中同时提供了几个重要的电离层预报参数,如MOF、LOF、MUF及Es的影响等。文章最后把斜测电离图与同时测得的返回散射电离图(在同一张电离图上)结合起来,给出了最佳工作频率窗口,其结果可以作为(在固定线路上)修正长期预报的依据,因为长期预报是用垂测数据经换算得到的。

     

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出版历程
  • 收稿日期:  1987-11-03
  • 修回日期:  1900-01-01
  • 刊出日期:  1988-04-24

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